Ellipsometer Plasmos

Caractéristiques

• Angle of incidence   :   35° to 90° +/- 0.025°
• Thickness   :   0.3 to 6000 nm
• Max height   :   30 mm
• Max sample size   :   200 mm
• Light source   :   Laser HeNe 632.8 nm
• Ellipsometer type   :   Mono-wavelength